방사선 손상으로부터 위성을 보호할 수 있는 스마트 칩은 위성이 정교한 장비를 잘 운반할 수 있도록 도움을 주며, 제작 비용도 저렴함. Joseph Chang 교수가 이끄는 싱가포르 난양이공대학 연구팀이 개발한 스마트 칩은 전자장치에 심각한 손상을 줄 수 있는 중이온을 검출할 수 있음. Single Event Latchup으로 알려진 방사선 효과가 감지되면, 스마트 칩은 다른 전자장치를 안전하게 차단함. 이 칩은 중이온으로 인한 손상으로부터 보호됨............(상세내용 첨부 및 출처 참조)